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          ITC57300動態參數測試系統-云帆興燁

          型號:ITC57300動態參數測試系統
          可在絕緣柵雙極晶體管(IGBT),MOSFET,二極管和其他雙極之類的半導體器件上執行無損瞬態測量

          自動測試不同的參數

          ?堅固耐用的PC兼容計算機

          ?用戶友好的菜單驅動軟件

          ?可編程測試輸出箱

          ?電子表格兼容的測試數據

          ?可選內部電感負載

          ?GPIB可編程測試設備

          ?四通道高帶寬數字示波器

          ?脈沖發生器

          ?1200V電源

          產品描述

          ITC57300動態參數測試系統主機接受測試頭,這些測試頭可在諸如絕緣柵雙極晶體管(IGBT),MOSFET,二極管和其他雙極之類的上執行無損瞬態測量(需要其他可選的偏置電源和定制個性化板)。大型機中包括分析和執行電阻和電感開關時間,開關損耗,柵極電荷,Trr / Qrr和其他瞬態測試所需的所有測試設備和軟件。

          專為特定類型的瞬態測試設計的測試頭與主機上的特殊測試頭接收器配對。盡管測試頭只能執行一項特定的測試,但每個測試頭中的個性化板都會針對特定的設備,設備封裝和各種設備電路布置重新配置測試頭。

          測試頭

          ?ITC57210-N和P溝道MOSFET的R開關時間,MIL-STD-750,方法3472

          ?ITC57220-MOSFET和二極管的Trr / Qrr,MIL-STD-750,方法3473

          ?ITC57230-MOSFET的柵極電荷,MIL-STD-750,方法3471

          ?ITC57240 IGBT的電感性開關時間,MIL-STD 750,方法3477

          ?ITC57250短路(Isc)耐受時間,MIL-STD 750,方法3479

          ?ITC57260-功率MOSFET的柵極電阻(Rg),輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss)和反向電容(Crss),JEDEC標準JESD24-11


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