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          Chroma 19501局部放電測試儀-云帆興燁

          型號:19501
          Chroma 19501-K 局部放電測試器結合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機

          產品描述

          主要特色:

          · 單機內建高電壓耐壓測試與PD偵測功能

          · 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac

          · 高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA

          · 局部放電(PD)偵測范圍 1 pC ~ 2000 pC

          · 高壓接觸檢查功能(HVCC)

          · 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規測試要求

          · 內建IEC60747-5-5 測試方法

          · 三段電壓測試功能

          · PD測量結果數字化顯示(pC)

          · PD 不良發生判定次數設定 (1~10)

          · 繁中/ 簡中 / 英文操作介面

          · USB畫面擷取功能

          · 圖形化輔助編輯功能

          · 標準LAN, USB, RS232遠端控制介面

          Chroma 19501-K 局部放電測試器結合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機,提供交流電壓輸出最大10kV,漏電流量測范圍從0.01uA~300uA,局部放電偵測范圍最小可偵測1pC放電量,針對高壓半導體元件及高絕緣材料測試應用所開發。產品設計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規要求,同時內建IEC 60747-5-5法規之測試方法在儀器內部,滿足光耦合器產品生產測試需求,并提供給使用者一個便利操作介面.

          在生產線上執行高壓測試時,如果被測物未能正確及良好連接測試線,將導致測試結果失敗甚至是漏測的風險。因此,在測試前確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma 獨特之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check),利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查,提升其測試可靠度與效率。

           


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